三星高容貼片電容容量偏低說明：如NP0。該材料沒有衰減，因此容量偏低，如果測試條件(頻率、電壓等)選擇正確，則會產生產品問題。

若X7R X5R Y5V

Z5U是具有老化特性的，因為產品放置時間過長會衰減，但這一過程是可逆的，當我們把產品加熱到一定程度(通過居里點半，不包括加熱過程時間和冷卻時間)之后，再冷卻大約12~24小時，測試結果準確。假如它還很低，那就需要考慮產品本身了。

三星高容貼片電容

世祥電子有一批送來的三星貼片電容到客戶處進行測試，發現幾款高容量產品型號容量偏低，高容量貼片電容型號容量為何會偏低，下面小編為大家分析一下：

第一，三星貼片電容送樣容量偏低的型號如下：

0805 X5R 22UF M 10V 15pcs

C 0805 X5R 10UF K 10V 15PCS

C 0805 X5R 4.7UF K 25V 15PCS

C 0805 X7R 2.2UF K 16V 15PCS

C 0805 X5R 10UF K 16V 15PCS

C 0603 X7R 4.7UF K 16V 15PCS

C 1206 X5R 10UF K 16V 15PCS

看看客戶的檢測報告，客戶的檢測要求跟條件都是一致的，那么為什么要測試NG容值呢？MLCCCeramic材料分為ClassI(CaTiO3材料C0G,NPO等)和ClassII(BaTiO3材料X5R,X7R,Y5V等)兩類，MLCC材料BaTiO3材料具有電容隨時間遞減的特點，即電容老化。

電容量老化是鐵電陶瓷所特有的一種自然現象，具有自發偏振現象。

三星貼片電容

將陶瓷電容器加熱到居里點(約150℃)以上的溫度時，晶體結構發生了變化，自發極化現象消失，使其處于無負荷狀態。當溫度低于居里點時，逆轉自發性極化將變得越來越困難，因此，測量的電容值將隨時間而降低。

BaTiO3的晶體結構在低于居里點溫度時發生偏移，從而導致了正電和負電的生點偏移，引起極化現象。

衰老是一種可逆現象，當材料在高溫條件下處于老化狀態時，其分子結構就會恢復到原來的狀態。物質會從老化開始又一次循環。

片式電容生產廠家推薦使用溫度為150℃+0/-10℃/1hour。也就是能把產品恢復到原來的常規規格。

只有三星的MLCC產品才有老化現象？

答案是不會。任何一家廠商的ClassⅡ(BaTiO3)陶瓷電容器都會出現老化現象。這是一種自然現象。